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基于荧光标记的高精度相关显微镜成像

发布:HPLlaser    |    2019-03-25 22:01    阅读:293
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荧光显微镜(fluorescence microscopy,FM)和电子显微镜(electron microscopy,EM)是显微成像的互补技术。 FM可对大视野进行观察并快速识别目标区域,但分辨率低。 EM虽观察视野受限,但在视野范围内表现出优异的分辨率。相关显微镜将这两种技术结合,在过去几年中引起了研究人员相当大的关注,且其在生物学和材料科学方面的潜力也已被证明。然而,由于机制竞争,视场大小和分辨率的差异,提高FM和EM图像结合的精确相关性具有挑战性。本文提供了一种准确,快速和稳健的方法,使用低密度的基准标记来关联FM和EM图像。实验中用荧光标记涂覆二氧化硅的金纳米颗粒,将其120nm直径作为基准标记。该方法依赖于FM图像,低倍放大率EM和高倍放大率的EM图像。构造FM到低放大率EM和低放大率EM到高放大率EM的两个线性变换矩阵。这些矩阵的组合可实现FM图到高放大率EM图的高精度坐标变换。使用两种不同的透射电子显微镜和不同的切片测试该方法,并证实了该相关方法的总体准确度很高,为5-30nm。

将FM与高放大率TEM图像相关联的步骤。

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